面向测试和测量的高级半导体技术
•扩展的数据转换器解决方案，推动性能的极限
•提供出色的信号完整性、分辨率和动态范围特性
•允许开发新的测试系统
主要应用条件：
近年来，测试仪器在多个领域都取得了显著的进展。这里我们简单地看几个例子。
不断变化的测试环境
5G基础设施的发展需要巨大的工程努力，远超过前几代移动通信。为了适应5G新无线电(NR)技术，其他频段也正在开放，包括毫米波频率（+30GHz），此外多用户MIMO和超低延迟操作也为测试带来了巨大的挑战。这些挑战将影响现场测试和网络硬件的兼容性测试。
自动测试设备（ATE）被用于生产设施，以最大限度地提高产量，且无需耗时的人工干预。除了光学检测，还需进行综合测试，因此需要对电信号进行转换和调理。
通过机器状态监测(MCM)，人们可以监测工厂生产和工业加工设备的持续运行效率，这是工业4.0时代的重要组成部分。利用分布式传感器阵列获得的数据，人们可以在整个作业过程中进行分析，从而从预测性维护和程序优化中获益，并在潜在问题恶化之前识别出问题所在。MCM正帮助企业提高生产力水平、降低运营成本并确保工人安全。
在飞行时间质谱分析中，有可能识别不同的电离粒子。这是通过施加电场加速它们的运动，并测量它们到达探测器所需的时间来实现的。这样的应用会在很大的动态范围里产生大量的信号数据。这些数据必须经过数字化，才能进行下一步的分析处理。
这里详细介绍的所有场景，都需要最先进的信号调理器件，这也是Teledyne e2v最专业的领域。
数据转换器的角色
数据转换器件，即模数转换器(ADC)和数模转换器(DAC)，能够将真实世界的数据转换为一种可以在数字域使用的形式，反之亦然。对于像示波器和数据记录硬件这样的设备，ADC的分辨率和采样率是关键的参数；而对于任意波形发生器这类的设备中使用的DAC，输出带宽等特性参数才是最重要的。在为面向测试的应用选择数据转换器时，还需考虑其他参数，以保证后续分析所需数据的质量。这些参数包括无杂散动态范围(SFDR)、总谐波失真(THD)、信噪比(SNR)和误码率(BER)。
通过持续的工程创新，Teledyne e2v为测试和测量领域的主要制造商提供了颠覆性的半导体器件，帮助他们生产能够解决上述测试挑战的仪器。
产品特点：
EV12DD700是一款双通道DAC，支持超高频(SHF)直接转换，是波形发生器和其他类型的测试设备的关键器件。它可达到Ka波段(+30GHz)，采样率高达12Gsps，在很宽的频率范围里只有很小的衰减。它包含可编程anti-sinc滤波器、数字控制振荡器(NCO)、直接数字合成(DDS)和数字上变频(DUC)功能。
EV12AQ600拥有非凡的操作灵活性，是现代示波器、MCM、飞行时间质谱分析和ATE系统的关键器件。这款多模式12位分辨率四通道ADC具有非常低的SFDR。集成的交叉点开关允许分配6.4Gsps采样率至所有通道或一个通道（四通道模式下1.6Gsps采样率，两通道模式下3.2Gsps采样率）。
EV12DS130xZP系列器件具有优秀的线性度，非常适合用于任意波形发生器等高端应用。这些12位DAC的最大采样率为3Gsps，上升时间仅为50ps。它们集成了4:1和2:1的多路复用功能，与标准LVDS FPGA芯片的连接非常简单。
EV12DS480是一款12位分辨率的DAC，具有7.5GHz的输出带宽，延迟很低。这款器件能够在K波段进行直接数字转换。它包含一个内置的多路复用器，可以选择4:1或2:1模式。当跨越多个奈奎斯特域时，其独特的可编程脉冲成形功能将提供很大帮助。可用的工作模式有归零模式(RTZ)、非归零模式(NRZ)、窄归零模式(NRTZ)和射频模式(RF)。外部同步功能可用于多片DAC的同步。
EV10AQ190A是一款面向高速数据采集、MCM和ATE应用的四通道10位分辨率ADC。它每个通道的采样率是1.25Gsps，交织时可提供双通道2.5Gsps或单通道5Gsps的采样率。通道数、增益和带宽都可通过SPI接口进行调整。它的通道间隔离度大于60dB，可防止任何可能的信号间的干扰。
联系我们
请填写以下信息，立即获取业务帮助。