太空中的辐射效应是最重要的考虑因素，因为它们会对电子元件和系统造成损害，导致潜在的失效或故障。高能粒子，如重离子和质子，可以在电子设备中引起单事件效应(SEE)，这可能导致设备性能的暂时或永久变化。此外，长期暴露在辐射中会导致电子元件和系统退化，导致可靠性和性能随着时间的推移而降低。在设计中考虑辐射效应，以及对空间系统进行测试是确保其在恶劣的空间辐射环境中正常长期工作的必要条件。

下一代空间系统一直在寻求更高的计算性能，以服务于现代应用(实时图像/视频处理、科学数据分析、通信、自主操作、人工智能和航空电子设备)，并实现新的任务 (轨道、空间寿命、卫星冗余/星座)。由于传统的防辐射设备无法提供高计算性能，因此设计人员现在必须考虑来自工业市场的更多标准的计算解决方案，同时确保他们使用这些解决方案构建的系统仍然可以在辐射下安全运行并具有可接受的使用寿命。

Teledyne e2v可提供计算密集型耐辐射数字处理解决方案，如Arm®Cortex®-A72处理器和高速DDR4内存。QLS1046-Space是基于这两个独立器件的优化的耐辐射模块。

本文的第一部分将描述Teledyne e2v采用的测试和表征这个耐辐射高速数字处理解决方案的策略，然后介绍了QLS1046-Space产品及其宇航级特有的特性，接着介绍在QLS1046-Space上应用的辐射测试的装置和方法，以及在重离子、质子、TID和辐射缓解方面的实验结果。

如要阅读全文，请单击链接下载完整白皮书。